如何设置能谱线扫结果按成分百分比显示（TIA软件）

EDX?这个基本没戏。TIA这个线扫描或面扫描只能给出定性的比较。
定量的只能一个点一个点手动。
另外TIA也不能输入实验的k factor,只能用程序自带的计算出的，所以不太准。

既然线扫是一个一个点采集出来的，而且每一个点的成分都可以算出来，按理说程序本身给出成分百分比的曲线来应该很容易。
不知道是TIA软件没有这个功能还是没有设置好？请高手指点。

那就要问FEI了，我研究了几天的结果是没有这个功能。所以我都是一个点一个点的算，差点没累趴下。目前唯一的进展是将谱导成数据格式了(还是用了别人的IDL的script)，看看其他软件能不能处理。

线扫的信号只有能量窗口里那一小部分，不能用于精度较高的定量计算。要得到沿线各点的成分，需要每个点上都保存一个完整的谱，那是spectrum imaging功能。

谱是完整的谱，是spectrum imaging扫出来的，但是定量分析时TIA就是只能一个点一个点用手点若干步，即使每个点步骤都相同。或许他们认为定量就必须一个谱一个谱的检查，从peak finding到拟合必须人工检查？

EDS要实现全自动可能有点困难，机器不能自己选元素，除非整个扫描范围内元素种类没变化。

应助达人

TIA连能谱定量wt% or at%的功能都没有？如果能谱仪不集成到TIA，倒还是可以

请大家都来研究一下。不然做个线扫只能给出个各个元素的计数率分布感觉意义打了折扣。
有人说好像可以设置，但是不知道在哪里怎么设置。

我也想知道怎么弄，自己没电镜，去别人那里做得自己说明白了，要不都没法做