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再问死时间、计数率和时间分辨率

X射线荧光光谱仪(XRF)

  • 请问一下:

    X射线 探测器的死时间、计数率和时间分辨率的关系是什么?之前论坛有这个问题,但是不是很明白,所以再次询问一下各位。

    计数率越高不是应该死时间就越小吗?如何理解?这个与脉冲输出波形有什么联系?后端软件能调节吗?

    时间分辨率又该怎么理解?

    大家能帮我稍微详细地说一下吗?谢谢了
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  • 里海

    第1楼2013/03/15

    死时间越小探测器越好,不是软件方面的问题,计数率越高测量结果越容易准确

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  • sonne86400

    第2楼2013/03/15

    这个也要看你具体的基材选择准确的测试方法 还有你不同的元素选择的条件都不会一样的哦

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  • 白水山石

    第3楼2013/03/15

    我是这样理解的:
    一、死时间就是对探测器输入了X射线光子但探测器没有记录这些光子的时间,为什么没有记录?因为你输入的光子太多,而探测器中用于传输的粒子或通道又太少,所以太多的输入会造成死时间长,也就是说过高的计数率会导致死时间增加,因为探测器常处于饱和状态。
    二、从一的角度出发,死时间越长,则时间分辨率越差。因为滞后比较大。

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  • wbwlwzj

    第4楼2013/03/15

    您好,请问这个死时间、计数率跟探测器的通道是什么关系,探测器的通道是什么?

    白水山石(tianzhen) 发表:我是这样理解的:
    一、死时间就是对探测器输入了X射线光子但探测器没有记录这些光子的时间,为什么没有记录?因为你输入的光子太多,而探测器中用于传输的粒子或通道又太少,所以太多的输入会造成死时间长,也就是说过高的计数率会导致死时间增加,因为探测器常处于饱和状态。

    二、从一的角度出发,死时间越长,则时间分辨率越差。因为滞后比较大。

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  • wbwlwzj

    第5楼2013/03/15

    那两者的关系是什么?是怎么相互影响的

    里海(lihaijun) 发表:死时间越小探测器越好,不是软件方面的问题,计数率越高测量结果越容易准确

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  • wbwlwzj

    第6楼2013/03/15

    具体的死时间、计数率等数值肯定是要看基材等的条件的,但是我的问题主要是死时间和计数率的关系,以及相互影响的原因

    sonne86400(sonne86400) 发表:这个也要看你具体的基材选择准确的测试方法 还有你不同的元素选择的条件都不会一样的哦

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  • 里海

    第7楼2013/03/15

    计数率和浓度的关系更大些,死时间指的是光子进入探测器后到达阳极丝的时间,这段时间其他的光子无法进入

    wbwlwzj(v2680018) 发表:那两者的关系是什么?是怎么相互影响的

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  • wbwlwzj

    第8楼2013/03/16

    浓度是什么?死时间大了,计数率不是肯定就大不了了吗?

    里海(lihaijun) 发表:计数率和浓度的关系更大些,死时间指的是光子进入探测器后到达阳极丝的时间,这段时间其他的光子无法进入

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  • 里海

    第9楼2013/03/16

    浓度是样品中元素含量多少。死时间内光子无法进入探测器,因此死时间越长检测的次数就越少,探测器品质越差

    wbwlwzj(v2680018) 发表:浓度是什么?死时间大了,计数率不是肯定就大不了了吗?

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  • 钓鱼岛是中国的

    第10楼2013/03/18

    我觉得首先得知道啥叫死时间,死时间的产生是由于探测器对脉冲的响应时间大于荧光仪的计数脉冲发射时间,造成的计数阻塞和计数丢失。这个可以用计数校正公式来校正的。
    引用论坛前辈的回帖:“计数率分为输入计数率和输出计数率,所谓输入计数率即指每秒钟输入的个数,输出则指能检测到的有效的输出个数。为了增加计数率,可以提高管压、管流等方式实现,则输出计数率、死时间也会随之变大,当输入计数率达到一定的值后,会出现拐点,即输出计数率反而会变小,而死时间会急剧增大,这是由于分析方法的局限造成的。可以适当的减小(梯形)成型时间,一般现在都是用的梯形成型的方法来实现分析的。减小(梯形)成型时间的弊端是会造成分辨率会稍微变差,但是相反的死时间会变小。”可见两者之间的关系是相互制约的,一般仪器在出厂时应该会保证可正常测量的计数率的参数准确性的,我们只在x光管工作效率低下即将更换时才采取增加电流或者电压的方式来保证测量的准确性。由于所使用仪器的方法不同,可能会存在差异。希望能够帮助你!

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