基本参数法校正基体

特征X射线λi是固定的，这个值有表可查。
待测元素i对于任意波长的X射线（含荧光）都有吸收作用，但是只有波长小于λi的X射线能激发i的荧光λi。
但待测元素i对X射线的吸收程度（系数）非常复杂，具有跃迁性。在一个波段可用某个函数拟合，但另一个波段却是不同的拟合函数。
波段边界也就是所谓的临界处，其值会突然跃迁，呈现出一个“台阶”。

从这款软件可以清晰看到质量吸收系数特点。
以钨（W）元素为例，下面的图显示了W对不同能量X射线的吸收系数：
（X轴为X射线能量，Y轴为吸收系数）
W对0.5KeV~3KeV区间X射线吸收系数曲线：

2KeV~7KeV：

W对5KeV~40KeV区间X射线吸收系数曲线：

应助达人

你是要像中石老师那样从头做，还是只是使用？
通常的国外XRF仪器配套的商业软件中，都可以直接计算理论强度的。国产的在这里可能弱一些。楼上回答问题的中石老师编写过相关的软件的。如果只是使用，那很简单的，直接在软件中计算就好了。
特征波长λ当然可以查表，质量吸收系数也是可以查表的，每个元素对另一个元素的吸收系数都可以查表得到。化合物的需要计算折合质量吸收系数，其加权因子即为含量。比如Al2O3对RhKa的吸收情况，先根据原子量分别计算Al、O在Al2O3中的含量，然后去查表找到Al和O对RhKa的质量吸收系数，就可以计算出Al2O3的折合质量吸收系数。
楼上中石老师回到中，提到了拟合计算的问题，这在程序计算中经常用到，因为质量吸收系数有突变（吸收边），所以需要分段拟合计算质量吸收系数的计算公式，对于吸收边处的处理可以使用吸收阶跃比（可查表得到）来处理。

我现在是在看卓尚军编写的《X射线荧光光谱的基本参数法》，他们在质量质量吸收系数上面讲解的不是很清楚。都一笔带过，上面的在将理论强度的计算时，关于质量分数的计算时直接给出了结果，不知道是怎么计算的。

我现在是想用卓尚君编写的《X射线荧光光谱的基本参数法》中附表5中的Thinh-Leroux方法方法，但是对于第二阶段E'>E>Ek却不是很了解，在这里E'是一个什么量，是激发元素的特征射线能量吗?还请大神指点下

卓尚君编写的《X射线荧光光谱的基本参数法》我没看过，当时研究XRF分析的时候用的参考书之一
是科学院出版的《X射线荧光光谱分析》作者包括吉昂、卓尚君等人。据说是科学院研究生教材。
这本书的编写相当严谨，不足之处就是很多地方“语焉不详”，尤其是很多关键公式，好的给出完整的公式，但没有详细
推导，知其然不知其所以然，无法深入理解公式背后的理论；更有部分公式无法展开，你都不知道其中某项怎么来的，是
什么意思，根本无法在实际中应用，更别谈编程实现了。
至于楼主你看的那本书我没看过，所以就不清楚了。
总的来说，楼主你想要深入研究甚至编程实现，那我告诉你，一两本参考书解决不了问题，你必须找很多相关研究资料。
而且每个人的研究公式所用的符号都可能不同，甚至公式本身推导方法角度都不一样。你必须消化综合，最后自己彻底理解
才能把这些理论的东西实用化。
所以说，这些不是在网上我三言两语能给你答案的。