【求助】粉磨压片程序的制作过程

PHD用监控样品测

是用仪器monitor样片进行测量?
还是制作一个粉磨样片来进行PHD检测？
这个过程能不能详细的描述一下或者有相关的资料分享一下。
谢谢！
请问您有没有更方便快捷的沟通方式来交流一下，期待您的回复。
我的邮箱是xray_mg@sina.com

飞利浦的荧光仪吧，我也是才接触飞利浦的仪器还不是很明白，但是PHD有专用样片这是肯定的。

请问你从事的行业。
请大家继续关注这个问题，期待得到解决。

不一定有专门的校准样品的，PHD是在你建立方法的时候做的，作用是为了去掉你要测的那条谱线的倍次线的，还有它也要把一部分逃逸峰包括进来，也属于选择测量条件

粉末压片法制样是常用的方法，针对不同的样品物理特性要做一些实验来确定怎么制样，比如是否需要加入助磨剂、粘结剂等，加入量多少等。好多资料都有介绍，这里也有好多高人，你多问问。

谁教给你这样做的？！

我们的就是用一个普通的标准样品做的

两种不太一样，但都是正确的。说的是两个方面
用监控样品，应该是测定整台仪器所有通道的PHD，含量范围适当的那种；
用普通样品，应该是做分析条件时使用的样品，如前面所说的，去除高次线，设定窗口宽度。