【讨论】怎么辨认重叠峰？

应助达人

1.用色谱纯度分析法

2. Amdis帮助

3 仔细分析判断

前两方法归根到底为矩阵计算方法

矩阵算法再回个炉，会有大帮助。

应助达人

色谱峰纯度检查，可以检查整个TIC图里每个单色谱峰的纯度，但一般是量比较明显的重叠化合物，量小的隐藏的痕量化合物不能检出，相似度高的异构体也不能检出。

应助达人

用Amdis自动化质谱图解卷积和鉴定软件进行处理

NIST的Amdis自动化质谱图解卷积和鉴定软件对复杂基质，共流出的多组分，大峰中小成分，基质掩盖的痕量组分分析比较有利。

只要参数设置合理，一般是很有效地。

应助达人

仔细观察也是一种方法，但要很细心，否则看不出来的。也可以利用检索结果帮助，如果发现某一色谱峰有两种或更多的检索结果，也许就是充分成的两种成分。

听版主说了这三个方法，都各有道理。目前我用的比较多的还是色谱峰纯度法,如所说的缺点也较明显。
版主有关于AMDIS的基本资料吗,想学习一下。谢谢！

刚看了版主的有关AMDIS的帖子，是不是归纳起来就是选库，运行，看结果就好了吗？
除了这个还需要其他的操作吗？

应助达人

参考：1 【第二届原创大赛参赛作品】AMDIS自动化质谱图解卷积和鉴定软件在GC/MS数据处理的初步应用http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20091226/2294579/

2 【第二届原创大赛参赛作品】AMDIS自动化质谱图解卷积和鉴定软件初步介绍（续）http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20100117/2352775/

应助达人

是的，一般步骤是这样的，先选择合适MSL库，选择合适的amdis分析参数，然后进行运行。如果分析参数不合适，就需要调整了，再重新分析运行。另外要对结果进行筛选核对。