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理学XRF Primus,轻元素测量讨论

X射线荧光光谱仪(XRF)

  • 有一台理学Primus仪器,测量轻量元素(CNO)误差挺大;因为俺是一个小白,这两天查阅了相关的一些文献,感觉可能会和如下两个方面有关:
    1.是否和分光晶体有关系?比如说RX40/RX45、RX61/RX61F晶体检测能力的不同,顺便咨询一下,这些晶体哪种检测效果会好一些。
    2.会不会与选择的Slit狭缝有关系?
    希望有前辈拨云见日。。。。。
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  • sweetapple986

    第1楼2015/08/08

    超轻元素就别勉为其难了,不是XRF的强项。超轻元素荧光产率低,特征射线难以探测,而且位于长波区,很容易受重元素的L线干扰。RX属于人造多重晶体,编号越大的适合测越轻的元素。因为荧光产率低,狭缝应该选大的,保持计数率,当然分辨率会变差。总的来说,超轻元素测量不应使用XRF,应该用红外吸收法和热导法进行测量。

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  • duccc

    第2楼2015/08/09

    嗯嗯,这样就好明白多了,不过诡异的是定性方法测量硼的时候误差还可以,而测量碳的就会误差十倍以上。。。。

    sweetapple986(v2644276)发表:超轻元素就别勉为其难了,不是XRF的强项。超轻元素荧光产率低,特征射线难以探测,而且位于长波区,很容易受重元素的L线干扰。RX属于人造多重晶体,编号越大的适合测越轻的元素。因为荧光产率低,狭缝应该选大的,保持计数率,当然分辨率会变差。总的来说,超轻元素测量不应使用XRF,应该用红外吸收法和热导法进行测量。

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  • sweetapple986

    第3楼2015/08/11

    X射线类仪器测碳都是测不准,主要的问题是样品室内残留的油气分子(来自真空泵)或者样品沾有的碳氢化合物,在高能射线的照射下分解,把碳沉积在样品表面,导致碳峰增长,同时检测器用的超薄窗口也是高分子材料含碳的,碳峰的位置波长太长极容易受到其他元素的高次线干扰(波长色散机器的特色),等等的干扰。

    duccc(v2953116) 发表:嗯嗯,这样就好明白多了,不过诡异的是定性方法测量硼的时候误差还可以,而测量碳的就会误差十倍以上。。。。

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  • envirend

    第4楼2015/08/11

    应助达人

    解释的很好,学习啦。

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