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X-射线荧光光谱的定量原理是什么

qaz15000

2019/01/22

X射线荧光光谱仪（XRF）

各位老师，大家好，我需要 X-射线荧光光谱对一个样品中的二氧化硅进行测定，供应商给了个方法，采用压片法进行测定，没看的太懂。我想请教大家，定量样品中的二氧化硅需要采用对照品么，对照品怎么制备，厂家给的方法说采用商业化定制的对照品。

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玉米馒头

第1楼2019/01/23

应助达人

你测的样品是啥？粉末压片的话，对照样品需要和你的实际样品组成粒度尽可能相近，以降低粒度效应和价态影响，同时基体效应校正也更靠谱。对照样品也可以说是标准样品，可以自制也可以外购。

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sonne86400

第2楼2019/01/24

楼上解释很到位目数相近基体相似拉出来标线做个半定量才会准

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qaz15000

第3楼2019/01/28

感觉做起来很复杂，也没有设备，不大好弄。
玉米馒头(alhoon) 发表:你测的样品是啥？粉末压片的话，对照样品需要和你的实际样品组成粒度尽可能相近，以降低粒度效应和价态影响，同时基体效应校正也更靠谱。对照样品也可以说是标准样品，可以自制也可以外购。

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玉米馒头

第4楼2019/01/28

应助达人

那就外购呗，简单直接，自制成本其实也不见得低。
qaz15000(qaz15000) 发表: 感觉做起来很复杂，也没有设备，不大好弄。

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XRF光管和探头

第5楼2019/04/27

SiO2应该用波长分辨的XRF仪器。
分析分相对方法和绝对法，相对法都要标样。
自己做标样也很简单。

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