计数率与死时间

纯金属样品，就算是最低的电压电流，也会有相当好的计数率的。
不过由于探测器的计数线性差异，当电流电压逐渐较大后，也会慢慢失去线性，也就是计数率过高而出现死时间。这种情况可以使用遮光片降低计数率的。

如何选择滤光片？

是波谱还是能谱？波谱好像死时间不会增加多少。如果是能谱，一般厂家也由计数要求的，只要不超厂家告诉你的计数，死时间一般不会超多少的。

现在的问题是 通过降低管流减小死时间 计数率太低 可是增大后死时间又多了 这种现象 是不是因为探测器与样品的距离和角度有关呀？

一般不会吧。
详细说说你的“死时间”情况如何？最好截个扫描时的图上来，大家一起给你观摩观摩

LZ的设备用的是模拟多道成型技术还是数字多道成型技术。

首先要明白计数率分为输入计数率和输出计数率，所谓输入计数率即指每秒钟输入的个数，输出则指能检测到的有效的输出个数。为了增加计数率，可以提高管压、管流等方式实现，则输出计数率、死时间也会随之变大，当输入计数率达到一定的值后，会出现拐点，即输出计数率反而会变小，而死时间会急剧增大，这是由于分析方法的局限造成的。可以适当的减小（梯形）成型时间，一般现在都是用的梯形成型的方法来实现分析的。减小（梯形）成型时间的弊端是会造成分辨率会稍微变差，但是相反的死时间会变小。