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HITACHI FT110A XRF萤光镀层厚度测量仪使用便捷性与数据处理

X射线荧光光谱仪（XRF）

  • 该仪器的操作界面直观，即便是初学者也能够快速掌握。它配备了友好的用户界面和一键式测量功能，简化了测量流程。数据处理软件功能强大，能够即时显示测量结果，并提供详细的分析报告，包括镀层厚度、成分分析以及质量控制图表，便于用户进行深入的数据解读和趋势分析。
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